KB番号/010高温によるAg、Au、Cu、Fe、Mg、Ni、Pb、Pd、Pt、Ta、Ti、W、Alの短絡
KB番号：010
概要説明：高温によるAg、Au、Cu、Fe、Mg、Ni、Pb、Pd、Pt、Ta、Ti、W、Alの短絡
ストレス大分類：温度
ストレス小分類：高温
故障メカニズム大分類：結晶成長(ウイスカ)
故障メカニズム小分類：(真性)
故障フェーズⅠ：金属内部の歪み
故障フェーズⅡ：絶縁不良
故障モード：短絡
アイテム：Ag、Au、Cu、Fe、Mg、Ni、Pb、Pd、Pt、Ta、Ti、W、Al
故障の発生原理：
故障モードの検出：
主な業界・分野：電子デバイス
抑制対策(再発防止策)：
抑制対策(評価基準)：
備考：
Last-modified: 2010-04-29 (木) 19:11:28 (5104d)