シンビオ社会研究会 原子力WEB教材


KB番号/010高温によるAg、Au、Cu、Fe、Mg、Ni、Pb、Pd、Pt、Ta、Ti、W、Alの短絡

KB番号:010

概要説明:高温によるAg、Au、Cu、Fe、Mg、Ni、Pb、Pd、Pt、Ta、Ti、W、Alの短絡

ストレス大分類:温度

ストレス小分類:高温

故障メカニズム大分類:結晶成長(ウイスカ)

故障メカニズム小分類:(真性)

故障フェーズⅠ:金属内部の歪み

故障フェーズⅡ:絶縁不良

故障モード:短絡

アイテム:Ag、Au、Cu、Fe、Mg、Ni、Pb、Pd、Pt、Ta、Ti、W、Al

故障の発生原理:

故障モードの検出:

主な業界・分野:電子デバイス

抑制対策(再発防止策):

抑制対策(評価基準):

備考:

Last-modified: 2010-04-29 (木) 19:11:28 (4198d)