シンビオ社会研究会 原子力WEB教材


KB番号/095低湿による回転機器、半導体、表面並みデバイスの劣化、破壊

KB番号:095

概要説明:低湿による回転機器、半導体、表面並みデバイスの劣化、破壊

ストレス大分類:湿度

ストレス小分類:低湿

故障メカニズム大分類:乾燥

故障メカニズム小分類:静電破壊

故障フェーズⅠ:過電圧

故障フェーズⅡ:絶縁破壊

故障モード:劣化、破壊

アイテム:回転機器、半導体、表面並みデバイス

故障の発生原理:(人体帯電モデル)、(機械モデルなど)

故障モードの検出:SEM?

+  SEM

主な業界・分野:電子デバイス

抑制対策(再発防止策):

抑制対策(評価基準):

備考:

 
Link: tag/電子デバイス(4192d)
Last-modified: 2010-04-30 (金) 04:09:43 (4193d)