KB番号/110低負荷による磨耗
KB番号：110
概要説明：低負荷による磨耗
ストレス大分類：電界
ストレス小分類：低負荷
故障メカニズム大分類：磨耗
故障メカニズム小分類：
故障フェーズⅠ：
故障フェーズⅡ：
故障モード：
アイテム：
故障の発生原理：
故障モードの検出：
主な業界・分野：電子デバイス、高分子材料、電力
抑制対策(再発防止策)：
抑制対策(評価基準)：
備考：
Link: tag/磨耗(5077d)
tag/電子デバイス、高分子材料、電力(5102d)
tag/電界(5102d)
Last-modified: 2010-04-29 (木) 19:31:07 (5103d)