KB番号/117高電圧によるＷ、Ｎｉの絶縁物の生成
KB番号：117
概要説明：高電圧によるＷ、Ｎｉの絶縁物の生成
ストレス大分類：電界
ストレス小分類：高電圧
故障メカニズム大分類：高温酸化
故障メカニズム小分類：
故障フェーズⅠ：材料酸化
故障フェーズⅡ：接触抵抗の増加増大
故障モード：絶縁物の生成
アイテム：Ｗ、Ｎｉ
故障の発生原理：
故障モードの検出：
主な業界・分野：電子デバイス、高分子材料、電力
抑制対策(再発防止策)：
抑制対策(評価基準)：
備考：
Link: tag/電子デバイス、高分子材料、電力(5109d)
tag/電界(5109d)
Last-modified: 2010-04-29 (木) 19:31:49 (5110d)