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シンビオ社会研究会原子力WEB教材

KB番号/157高電圧によるＣＴＶ，レーダー、電子レンジなど半導体メモリの放射線障害

KB番号：157

概要説明：高電圧によるＣＴＶ，レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材)の放射線障害

ストレス大分類：特殊故障

ストレス小分類：高電圧

故障メカニズム大分類：放射線?

故障メカニズム小分類：Ｘ線

故障フェーズⅠ：

故障フェーズⅡ：

故障モード：放射線障害

アイテム：ＣＴＶ，レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材)

故障の発生原理：

故障モードの検出：SEM?

+

SEM

主な業界・分野：電子デバイス

抑制対策(再発防止策)：

抑制対策(評価基準)：

備考：

Tag:[sem, 放射線, 放射線障害, 特殊故障, 電子デバイス, 高電圧, ＣＴＶ，レーダー、電子レンジなど半導体メモリ, Ｘ線]

Link: tag/電子デバイス(5103d)

Last-modified: 2010-04-30 (金) 21:14:07 (5103d)