シンビオ社会研究会 原子力WEB教材


KB番号/157高電圧によるCTV,レーダー、電子レンジなど半導体メモリの放射線障害

KB番号:157

概要説明:高電圧によるCTV,レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材)の放射線障害

ストレス大分類:特殊故障

ストレス小分類:高電圧

故障メカニズム大分類:放射線?

故障メカニズム小分類:X線

故障フェーズⅠ:

故障フェーズⅡ:

故障モード:放射線障害

アイテム:CTV,レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材)

故障の発生原理:

故障モードの検出:SEM?

+  SEM

主な業界・分野:電子デバイス

抑制対策(再発防止策):

抑制対策(評価基準):

備考:

 
Link: tag/電子デバイス(4195d)
Last-modified: 2010-04-30 (金) 21:14:07 (4195d)