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''KB番号：''139
''概要説明：''高温低湿蒸気中によるＰｔ、Ｐｄ、Ｒｕ、Ｔａ、Ｍｏ、Ｃｒ接点と不飽和環状有機蒸気中、接点開閉機器の電気的接触不良、雑音
''ストレス大分類：''メカノケミカル反応
''ストレス小分類：''高温低湿蒸気中
''故障メカニズム大分類：''ブラウンパウダ
''故障メカニズム小分類：''
''故障フェーズⅠ：''アークの発生しないパラジウムを用いた接点しゅう動
''故障フェーズⅡ：''暗褐色の有機物粉末生成(ブラウンパウダ)
''故障モード：''電気的接触不良、雑音
''アイテム：''Ｐｔ、Ｐｄ、Ｒｕ、Ｔａ、Ｍｏ、Ｃｒ接点と不飽和環状有機蒸気中、接点開閉機器
''故障の発生原理：''
''故障モードの検出：''ＳＥＭ
''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]]
#region(SEM)
SEM
走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
#endregion
''主な業界・分野：''電子デバイス
''抑制対策(再発防止策)：''
''抑制対策(評価基準)：''
''備考：''
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#set_tags(高温低湿蒸気中によるＰｔ、Ｐｄ、Ｒｕ、Ｔａ、Ｍｏ、Ｃｒ接点と不飽和環状有機蒸気中、接点開閉機器の電気的接触不良、雑音,メカノケミカル反応,高温低湿蒸気中,ブラウンパウダ,,アークの発生しないパラジウムを用いた接点しゅう動,暗褐色の有機物粉末生成(ブラウンパウダ),電気的接触不良、雑音,Ｐｔ、Ｐｄ、Ｒｕ、Ｔａ、Ｍｏ、Ｃｒ接点と不飽和環状有機蒸気中、接点開閉機器,,ＳＥＭ,電子デバイス)
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