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* 電子デバイス、高分子材料、電力 [#qda117e5]
-[[KB番号/105妨害電波による入力、接地回路シールド不良の誤動作、電力破壊、電圧破壊]]
-[[KB番号/106瞬時停電による電源回路の誤動作、電力破壊、電圧破壊]]
-[[KB番号/108雷、誘電雷による入力接地回路保護デバイスの誤動作、電力破壊、電圧破壊]]
-[[KB番号/109サージ電流による入力接地電源回路スイッチの誤動作、電力破壊、電圧破壊]]
-[[KB番号/110低負荷による磨耗]]
-[[KB番号/111高電圧＋時間による集積回路の絶縁破壊]]
-[[KB番号/112過電圧による結晶性高分子、電力ケーブルの絶縁破壊]]
-[[KB番号/113過電圧による結晶性高分子、電力ケーブルの絶縁破壊]]
-[[KB番号/114過電圧による結晶性高分子、電力ケーブルの絶縁破壊電圧低下]]
-[[KB番号/115高電圧による半導体内部の接触部の発熱、発火]]
-[[KB番号/116高電圧による電路の接続部分の発熱、発火]]
-[[KB番号/117高電圧によるＷ、Ｎｉの絶縁物の生成]]
-[[KB番号/118高電圧による接合破壊]]
-[[KB番号/119高電圧によるイオン移動]]
-[[KB番号/120高電圧による不純物析出]]
-[[KB番号/123高温電圧によるＭＯＳデバイスの動作スピードの遅れ]]