''KB番号：''110 ''概要説明：''低負荷による磨耗 ''ストレス大分類：''電界 ''ストレス小分類：''低負荷 ''故障メカニズム大分類：''磨耗 ''故障メカニズム小分類：'' ''故障フェーズⅠ：'' ''故障フェーズⅡ：'' ''故障モード：'' ''アイテム：'' ''故障の発生原理：'' ''故障モードの検出：'' ''主な業界・分野：''電子デバイス、高分子材料、電力 ''抑制対策(再発防止策)：''(再発防止策) ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(低負荷による磨耗,電界,低負荷,磨耗,,,,,,,,電子デバイス、高分子材料、電力)