''KB番号：''116 ''概要説明：''高電圧による電路の接続部分の発熱、発火 ''ストレス大分類：''電界 ''ストレス小分類：''高電圧 ''故障メカニズム大分類：''導電性発熱物の生成 ''故障メカニズム小分類：''グロー現象 ''故障フェーズⅠ：''接続個所の接触不良 ''故障フェーズⅡ：''電流の断続 ''故障モード：''発熱、発火 ''アイテム：''電路の接続部分 ''故障の発生原理：'' ''故障モードの検出：''ＳＥＭ ''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]] #region(SEM) SEM 走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope) #endregion ''主な業界・分野：''電子デバイス、高分子材料、電力 ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(高電圧による電路の接続部分の発熱、発火,電界,高電圧,導電性発熱物の生成,グロー現象,接続個所の接触不良,電流の断続,発熱、発火,電路の接続部分,,ＳＥＭ,電子デバイス、高分子材料、電力) #set_tags(電界,高電圧,導電性発熱物の生成,グロー現象,接続個所の接触不良,電流の断続,発熱、発火,電路の接続部分,,SEM,電子デバイス、高分子材料、電力)