KB番号/103湿度＋電界＋ハロゲンによるハロゲンで移行する金属の短絡、絶縁不良
KB番号：103
概要説明：湿度＋電界＋ハロゲンによるハロゲニオンが共存すると移行する金属(Ａｕ、Ｉｎ、Ｐｄ、Ｐｔ)の短絡、絶縁不良
ストレス大分類：湿度＋電界
ストレス小分類：湿度＋電界＋ハロゲン
故障メカニズム大分類：イオンマイグレーション
故障メカニズム小分類：
故障フェーズⅠ：低電圧で発生
故障フェーズⅡ：
故障モード：短絡、絶縁不良
アイテム：ハロゲニオンが共存すると移行する金属(Ａｕ、Ｉｎ、Ｐｄ、Ｐｔ)
故障の発生原理：(今日、以下の2つの面からの研究が進められている ・質量輸送問題、 ・凝固理論の展開)
故障モードの検出：SEM?
| SEM |
主な業界・分野：電子デバイス
抑制対策(再発防止策)：
抑制対策(評価基準)：
備考：
Link: tag/電子デバイス(5108d)
tag/絶縁不良(5108d)
tag/短絡、絶縁不良(5109d)
tag/湿度＋電界(5109d)
tag/イオンマイグレーション(5109d)
tag/ハロゲニオンが共存すると移行する金属(5109d)
tag/低電圧で発生(5109d)
Last-modified: 2010-04-30 (金) 04:12:49 (5109d)