KB番号/110低負荷による磨耗
KB番号:110
概要説明:低負荷による磨耗
ストレス大分類:電界
ストレス小分類:低負荷
故障メカニズム大分類:磨耗
故障メカニズム小分類:
故障フェーズⅠ:
故障フェーズⅡ:
故障モード:
アイテム:
故障の発生原理:
故障モードの検出:
主な業界・分野:電子デバイス、高分子材料、電力
抑制対策(再発防止策):
抑制対策(評価基準):
備考:
Link: tag/磨耗(5253d)
tag/電子デバイス、高分子材料、電力(5278d)
tag/電界(5278d)
Last-modified: 2010-04-29 (木) 19:31:07 (5279d)