シンビオ社会研究会 原子力WEB教材

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• KB番号/018高温＋時間によるICチップ(Al-Auの接合部)、異種金属のめっきの破断 は削除されています。
  • 1 (2010-04-29 (木) 17:35:25)
  • 2 (2010-04-29 (木) 19:15:36)
  • 3 (2010-04-30 (金) 20:11:28)

''KB番号：''018

''概要説明：''高温＋時間によるICチップ(Al-Auの接合部)、異種金属のめっきの破断

''ストレス大分類：''温度

''ストレス小分類：''高温＋時間

''故障メカニズム大分類：''高温劣化

''故障メカニズム小分類：''熱拡散

''故障フェーズⅠ：''金属間の原子移動(相互拡散)

''故障フェーズⅡ：''クラック、空孔の生成

''故障モード：''破断

''アイテム：''ICチップ(Al-Auの接合部)、異種金属のめっき

''故障の発生原理：''[[アレニウス則>tag/アレニウス則]]
#region(アレニウス則)
アレニウス則

温度ストレスによる寿命を予測する法則
#endregion

''故障モードの検出：''

''主な業界・分野：''電子デバイス、化学、高分子材料

''抑制対策(再発防止策)：''

''抑制対策(評価基準)：''

''備考：''

#generate_tags()

#set_tags(温度,高温＋時間,高温劣化,熱拡散,金属間の原子移動,クラック、空孔の生成,破断,ICチップ,異種金属のめっき,アレニウス則,,電子デバイス、化学、高分子材料)