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概要説明：高温＋時間電圧＋時間によるフィンなどの破壊
ストレス大分類：温度
ストレス小分類：高温＋時間電圧＋時間
故障メカニズム大分類：2次破壊
故障メカニズム小分類：
故障フェーズⅠ：ホットスポット
故障フェーズⅡ：
故障モード：破壊
アイテム：フィンなど
故障の発生原理：
故障モードの検出：
主な業界・分野：電子デバイス
抑制対策(再発防止策)：(再発防止策)
抑制対策(評価基準)：
備考：