KB番号：115
概要説明：高電圧による半導体内部の接触部の発熱、発火
ストレス大分類：電界
ストレス小分類：高電圧
故障メカニズム大分類：導電性発熱物の生成
故障メカニズム小分類：亜酸化銅増殖現象
故障フェーズⅠ：亜酸化銅の発生
故障フェーズⅡ：電子雪崩による高温
故障モード：発熱、発火
アイテム：半導体内部の接触部
故障の発生原理：
故障モードの検出：ＳＥＭ
主な業界・分野：電子デバイス、高分子材料、電力
抑制対策(再発防止策)：(再発防止策)
抑制対策(評価基準)：
備考：