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概要説明：高温低湿蒸気中によるＰｔ、Ｐｄ、Ｒｕ、Ｔａ、Ｍｏ、Ｃｒ接点と不飽和環状有機蒸気中、接点開閉機器の電気的接触不良、雑音
ストレス大分類：メカノケミカル反応
ストレス小分類：高温低湿蒸気中
故障メカニズム大分類：ブラウンパウダ
故障メカニズム小分類：
故障フェーズⅠ：アークの発生しないパラジウムを用いた接点しゅう動
故障フェーズⅡ：暗褐色の有機物粉末生成(ブラウンパウダ)
故障モード：電気的接触不良、雑音
アイテム：Ｐｔ、Ｐｄ、Ｒｕ、Ｔａ、Ｍｏ、Ｃｒ接点と不飽和環状有機蒸気中、接点開閉機器
故障の発生原理：
故障モードの検出：ＳＥＭ
主な業界・分野：電子デバイス
抑制対策(再発防止策)：(再発防止策)
抑制対策(評価基準)：
備考：