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概要説明：常温による元素(Ｃｄ、Ｓｎ、Ｚｎ、Ｓｂ)、合金(Ｓｎ－Ａｌ、Ｓｎ－Ｚｎ、Ｐｂ－Ｃｕ、Ｉｎ－Ｍｇ)の短絡
ストレス大分類：特殊故障
ストレス小分類：常温
故障メカニズム大分類：ウィスカ
故障メカニズム小分類：(真性)
故障フェーズⅠ：金属内部の歪み
故障フェーズⅡ：絶縁不良
故障モード：短絡
アイテム：元素(Ｃｄ、Ｓｎ、Ｚｎ、Ｓｂ)、合金(Ｓｎ－Ａｌ、Ｓｎ－Ｚｎ、Ｐｂ－Ｃｕ、Ｉｎ－Ｍｇ)
故障の発生原理：
故障モードの検出：ＳＥＭ
主な業界・分野：電子デバイス
抑制対策(再発防止策)：(再発防止策)
抑制対策(評価基準)：
備考：