KB番号：153
概要説明：常温によるＡｇ２Ｓ、Ｃｕ２Ｓ、ＮａＭｏ２Ｏ７の短絡
ストレス大分類：特殊故障
ストレス小分類：常温
故障メカニズム大分類：ウィスカ
故障メカニズム小分類：(非真性)
故障フェーズⅠ：絶縁不良
故障フェーズⅡ：
故障モード：短絡
アイテム：Ａｇ２Ｓ、Ｃｕ２Ｓ、ＮａＭｏ２Ｏ７
故障の発生原理：VLS機構、依存未知の部分が多い
故障モードの検出：ＳＥｍ
主な業界・分野：電子デバイス
抑制対策(再発防止策)：(再発防止策)
抑制対策(評価基準)：
備考：