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概要説明：高電圧によるＣＴＶ，レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材)の放射線障害
ストレス大分類：特殊故障
ストレス小分類：高電圧
故障メカニズム大分類：放射線
故障メカニズム小分類：Ｘ線
故障フェーズⅠ：
故障フェーズⅡ：
故障モード：放射線障害
アイテム：ＣＴＶ，レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材)
故障の発生原理：
故障モードの検出：ＳＥＭ
主な業界・分野：電子デバイス
抑制対策(再発防止策)：(再発防止策)
抑制対策(評価基準)：
備考：