シンビオ社会研究会 原子力WEB教材

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KB番号：156

概要説明：電源電圧による超ＬＳＩ(場所による)0.2μm以下ＧａＡｓ、ＩｎＰの断線、開放

ストレス大分類：特殊故障

ストレス小分類：電源電圧

故障メカニズム大分類：ホットエレクトロン・バリスティック輸送

故障メカニズム小分類：インパクトイオン化

故障フェーズⅠ：電流密度の上昇

故障フェーズⅡ：ボイドの発生

故障モード：断線、開放

アイテム：超ＬＳＩ(場所による)0.2μm以下ＧａＡｓ、ＩｎＰ

故障の発生原理：

故障モードの検出：SEM?

主な業界・分野：電子デバイス

抑制対策(再発防止策)：

抑制対策(評価基準)：

備考：