シンビオ社会研究会 原子力WEB教材

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• KB番号/157高電圧によるＣＴＶ，レーダー、電子レンジなど半導体メモリの放射線障害 へ行く。
  • 1 (2010-04-29 (木) 18:47:08)
  • 2 (2010-04-29 (木) 19:37:12)
  • 3 (2010-04-30 (金) 04:26:40)

KB番号：157

概要説明：高電圧によるＣＴＶ，レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材)の放射線障害

ストレス大分類：特殊故障

ストレス小分類：高電圧

故障メカニズム大分類：放射線

故障メカニズム小分類：Ｘ線

故障フェーズⅠ：

故障フェーズⅡ：

故障モード：放射線障害

アイテム：ＣＴＶ，レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材)

故障の発生原理：

故障モードの検出：SEM?

主な業界・分野：電子デバイス

抑制対策(再発防止策)：

抑制対策(評価基準)：

備考：