シンビオ社会研究会 原子力WEB教材
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- KBc番号/010原子力発電所蒸気発生器の伝熱細管破談
- KBc番号/011高速増殖原子炉もんじゅの二次系ナトリウム漏洩
- KBc番号/012海洋油田プラットフォームの転覆
- KBc番号/021ボイラ一次過熱器官損傷
- KBc番号/024スクーバ用アルミニウム合金製容器の破製
- KBc番号/028原子力発電所低圧蒸気タービンのバースト
- KBc番号/032敦賀発電所1号機動作不良制御棒22-23の点検に伴う原子炉停止について
- KBc番号/035H-Ⅱロケット6号機打ち上げ失敗
- KBc番号/037耐磨ライニング材質による母財の浸炭、ライニングの剥離への影響
- KBc番号/038エチレン製造分解炉輻射管の侵炭損傷
- KBc番号/042クランクシャフトのキー溝が磨耗して回転ガタが生じた
- KBc番号/046密閉した海水中における電気防食に伴うステンレス鋼の全面腐食損傷
- KBc番号/052重油水添脱硫装置における水素および経由の漏洩
- KBc番号/060荷役機械のつり荷落下
- KBc番号/062架設時の座屈によるWest Gate Bridge楽橋事故
- KBc番号/064地下鉄工事現場での都市ガス爆発
- KBc番号/068フリックスボローの化学プラント爆発
- KBc番号/071安全弁元弁の閉止によって液化窒素貯槽が破裂
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- KB番号/009高温による金属、プラスチック材料、温度ヒューズの溶断(5321d)
- KB番号/010高温によるAg、Au、Cu、Fe、Mg、Ni、Pb、Pd、Pt、Ta、Ti、W、Alの短絡(5322d)
- KB番号/011高温によるCu、Ag、Fe、Ni、Co、Mn、Au、Pt、Pd、ハロゲン化合物の短絡
- KB番号/012高温による回路基盤(Si基盤)のリーク電流増大(5321d)
- KB番号/013高温による電線と接触箇所のゆがみ部分のジュール熱の発生(5321d)
- KB番号/014高温水素環境下による炭素鋼、Mo鋼、Cr-Mo鋼のメタンによる界面割れ(5321d)
- KB番号/015高温+時間によるマルテンサイト系ステンレス、13Cr系ステンレスの延性現象(5321d)
- KB番号/016高温+時間によるプラスチックの短絡、き裂、破断(5321d)
- KB番号/017高温+時間による接点材料、ポリマーの剥離、脱落(5321d)
- KB番号/018高温+時間によるICチップ(Al-Auの接合部)、異種金属のめっきの破断
- KB番号/019高温+時間によるICチップ、異種金属のめっきの金属間化合物の生成(5321d)
- KB番号/020加熱+乾燥+時間によるプラスチックの発火
- KB番号/021高温+時間電圧+時間によるフィンなどの破壊(5322d)
- KB番号/022常温による合金、鉄鋼の破断(5322d)
- KB番号/023常温によるAlなどのき裂、破断(5322d)
- KB番号/024常温による焼入時効(5322d)
- KB番号/025低温による主にプリント基板などに取り付けられた機構部品の雑音、接触不良(5322d)
- KB番号/026高温+大電流による半導体回路、Al配線膜の短絡、誤動作(5321d)
- KB番号/027高温+大電流による半導体回路、Al配線膜(Al、W、Cu)の断線(5322d)
- KB番号/028高湿+高温によるステンレス鋼、銅、亜鉛などの割れ、き裂、破断(84d)
- KB番号/029高湿+高温によるガスケット面、門部などの割れ、き裂、破断(5321d)
- KB番号/030高湿+高温によるポリカーボネート、ポリエステルなどの割れ、き裂、破断(5321d)
- KB番号/031高湿+常温によるプラスチック材料の割れ、き裂、破断
- KB番号/032高湿+温度サイクルによる短絡(84d)
- KB番号/033高湿+温度サイクルによる呼吸現象(5321d)
- KB番号/034加熱・冷却サイクルによるSUS304ステンレス鋼、発熱・発火部品の変形(5321d)
- KB番号/035加熱・冷却サイクルによるき裂、破断(5322d)
- KB番号/036加熱・冷却サイクルによる変形、き裂、破断
- KB番号/037加熱・冷却サイクルによる界面拡散(84d)
- KB番号/038高温+応力+時間によるばね、構造部品のへたり、き裂、破損(5322d)
- KB番号/039高温+応力+時間によるばね、構造部品のへたり、き裂、破損
- KB番号/040高温+応力+時間によるCr-Mo鋼の割れ、き裂、破断(5321d)
- KB番号/041高温+応力+時間による変形(84d)
- KB番号/042高温+応力+時間による残留応力の発生(5322d)
- KB番号/043高温+応力+時間による内圧管の管壁の変形・破損(5321d)
- KB番号/044低温+応力による磨耗(84d)
- KB番号/045低温+応力による鋼材や体心立方晶や最密六方晶およびその合金のき裂
- KB番号/046低温+応力による結晶性でガラス化温度の高い物,非晶質低伸度の物のき裂
- KB番号/047低温+応力による樹脂のき裂、破断破損(5321d)
- KB番号/048低温+応力による吸湿しやすい部品・材料の割れ、破断(5322d)
- KB番号/049高温+応力による電子デバイスのパッケージ製品、半田の割れ、破断
- KB番号/050高温+応力による集積回路(パッケージ製品)の膨張(5321d)
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- KB番号/060繰返し応力による高分子材料のき裂、破損
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- KB番号/063繰返し応力+摩擦力による歯車、(転がり)軸受け、タイヤのクラック剥離(5321d)
- KB番号/064衝撃による衝撃疲労(5322d)
- KB番号/065繰返し応力によるピッチング(5322d)
- KB番号/066振動による割れ、き裂(5322d)
- KB番号/067振動によるロータリドライヤ(セメントプラント)の減肉(5296d)
- KB番号/068しゅう動による剥離、脱落(5296d)
- KB番号/069応力+時間によるばね、構造部品のへたり、き裂、破損(5322d)
- KB番号/070応力+時間によるばね、構造部品、高分子材料のへたり、き裂、破損(5322d)
- KB番号/071応力+時間によるCr-Mo鋼の割れ、き裂、破断
- KB番号/072応力+時間による半導体集積回路、Al配線膜の塑性変形、破断、断線(5322d)
- KB番号/073応力+時間による高分子材料の変形(5321d)
- KB番号/074応力+時間腐食環境+材料+放射線損傷に構造用材料のき裂、割れ、破損(5321d)
- KB番号/075応力+時間腐食環境+材料による構造用材料のき裂、割れ、破損
- KB番号/076応力+時間腐食環境+材料による構造用材料のき裂、破断(5322d)
- KB番号/077しゅう動+腐食環境による剥離、脱落(5322d)
- KB番号/078応力+薬品+時間による高分子材料・樹脂と界面活性剤のき裂、割れ、破断
- KB番号/079応力+薬品+時間による同上+有機薬品のき裂、割れ、破断(5322d)
- KB番号/080吸湿・脱湿サイクルによる樹脂材料被覆樹脂、プリント基板の破損(5321d)
- KB番号/081高湿+ダストによる間欠短絡現象(5321d)
- KB番号/082高湿+イオン性物質による短絡、腐食(5321d)
- KB番号/083高低湿サイクルによる熱の放出
- KB番号/084高湿による低結晶性、有機樹脂を用いた被覆部品、低発熱部品の短絡、絶縁不良
- KB番号/085高湿による樹脂被覆、封止部品の漏水(5321d)
- KB番号/086高湿による潮解(5321d)
- KB番号/087高湿によるフラックス洗浄剤の腐食(5321d)
- KB番号/088高湿による樹脂封止の断線(5322d)
- KB番号/089高湿による銀、鉄、保温材下などの割れ、破断(5321d)
- KB番号/090高湿によるバルブ弁棒、ねずみ鋳鉄などの侵食(5321d)
- KB番号/091高湿によるSUS304ステンレス鋼、合金の侵食、断線(5321d)
- KB番号/092高湿によるパイプラインやねずみ鋳鉄などの埋設管の割れ、き裂、破断(5321d)
- KB番号/093水素発生雰囲気(例:めっきの酸洗浄など)による鋼、チタンの割れ、き裂(5322d)
- KB番号/094水素発生雰囲気(例:めっきの酸洗浄など)による構造用高張力鋼の遅れ破壊
- KB番号/095低湿による回転機器、半導体、表面並みデバイスの劣化、破壊(5321d)
- KB番号/096低湿による火災(5322d)
- KB番号/097低湿による帯電(5322d)
- KB番号/098低湿による低沸点配合物入り樹脂の破損(5321d)
- KB番号/099低湿による磨耗(5322d)
- KB番号/100腐食性ガス+電界によるAgの短絡(5321d)
- KB番号/101湿度+電界による絶縁劣化(5321d)
- KB番号/102湿度+電界によるBi、Cd、Cu、Pb、Sb、Zn、Agの短絡、絶縁不良(5321d)
- KB番号/103湿度+電界+ハロゲンによるハロゲンで移行する金属の短絡、絶縁不良(5321d)
- KB番号/104湿度+電界による抵抗器、樹脂封止ICなどの断線(5321d)
- KB番号/105妨害電波による入力、接地回路シールド不良の誤動作、電力破壊、電圧破壊(5321d)
- KB番号/106瞬時停電による電源回路の誤動作、電力破壊、電圧破壊(5321d)
- KB番号/107雑音(内部、外部)による入力接地回路デバイスの誤動作、電力破壊、電圧破壊(5321d)
- KB番号/108雷、誘電雷による入力接地回路保護デバイスの誤動作、電力破壊、電圧破壊(5321d)
- KB番号/109サージ電流による入力接地電源回路スイッチの誤動作、電力破壊、電圧破壊(5321d)
- KB番号/110低負荷による磨耗(5322d)
- KB番号/111高電圧+時間による集積回路の絶縁破壊(5321d)
- KB番号/112過電圧による結晶性高分子、電力ケーブルの絶縁破壊(5321d)
- KB番号/113過電圧による結晶性高分子、電力ケーブルの絶縁破壊
- KB番号/114過電圧による結晶性高分子、電力ケーブルの絶縁破壊電圧低下
- KB番号/115高電圧による半導体内部の接触部の発熱、発火(5321d)
- KB番号/116高電圧による電路の接続部分の発熱、発火(5321d)
- KB番号/117高電圧によるW、Niの絶縁物の生成(5322d)
- KB番号/118高電圧による接合破壊(5322d)
- KB番号/119高電圧によるイオン移動(5322d)
- KB番号/120高電圧による不純物析出(5322d)
- KB番号/121MOSFETのドレインへの電圧印加による集積回路の動作スピードの遅れ(5321d)
- KB番号/122電源電圧変動、サージによるMOS-IC、CMOS-ICの絶縁不良(5321d)
- KB番号/123高温電圧によるMOSデバイスの動作スピードの遅れ(5321d)
- KB番号/124閉開接点+アークによるSi化合物の雑音、接触不良(5322d)
- KB番号/125化合物+湿度による接点材料および金属材料、H2Sでは金属、特にAgの割れ、き裂(5322d)
- KB番号/126化合物+湿度による接点材料および金属材料の割れ、き裂(5322d)
- KB番号/127化合物+湿度による接点材料および金属材料の酸化膜の生成(84d)
- KB番号/128高圧放電による接点材料および金属材料の割れ、き裂(84d)
- KB番号/129酢酸による接点材料および金属材料の材料劣化、減肉
- KB番号/130海岸(島、半島)による金属腐食、プラスチック材の絶縁不良の割れ、き裂(5322d)
- KB番号/131高温雰囲気による銀、金属、一般の腐食断線、短絡(84d)
- KB番号/132工業地帯による短い電極間、基盤高電圧電極間の配線の断線、短絡、汚染
- KB番号/133オゾンによる繊維、高分子材料の退色(5322d)
- KB番号/134オゾンによるゴム材料、高分子材料のひび割れ、き裂(5322d)
- KB番号/135酸性雨による高分子材料の割れ、き裂(5322d)
- KB番号/136紫外線による有機系高分子,ポリオレフィン類,樹脂のき裂,割れ,黄変,物性低下(5322d)
- KB番号/137紫外線によるポリエステルの分子量低下(5322d)
- KB番号/138高温有機ガス中によるAg、Au、Cu、Pd、Pt接点と接点開閉機器の接触不良(5321d)
- KB番号/139高温低湿蒸気中のPt,Pd,Ru,Ta,Mo,Cr接点と接点開閉機器の電気的接触不良、雑音(5321d)
- KB番号/140シリコーンガス+アークエネルギーによる硅素化合物などの接触不良(5321d)
- KB番号/141混相流体(液―気系)による流体機器の崩壊時の衝撃力により損傷(5322d)
- KB番号/142混相流体(気―固系)によるエンジンブレード、配管、ノズルの材料損傷(5322d)
- KB番号/143混相流体(液―固系)によるバルブ・ポンプ・タービンの材料表面変形、き裂、切削(5322d)
- KB番号/144液体によるジェット機・軽金属の材料の損傷
- KB番号/145機械的力による銅合金、バルブ、電熱管、インペラーの電気化学的腐食(5296d)
- KB番号/146混相流体(液―気系)による配管のベント部、海水ポンプのインペラーの損傷+腐食(5322d)
- KB番号/147混相流体(気―固系)によるエロージョン+焼然ガスによる高温ガス腐食(5322d)
- KB番号/148混相流体(液―固系)による遠心分離機の損傷+腐食(5322d)
- KB番号/149液体による多管式感交換機の損傷+腐食
- KB番号/150高温によるCo>Mn>Cu>Fe>V≫Ni>Ti≒Cd>Pure≧Ba≧Srの分解、破断(5321d)
- KB番号/151常温による塩ビ可塑剤、安定剤の変色、劣化、割れ(5321d)
- KB番号/152常温による元素(Cd、Sn、Zn、Sb)、合金(Sn-Al、Sn-Zn、Pb-Cu、In-Mg)の短絡(5321d)
- KB番号/153常温によるAg2S、Cu2S、NaMo2O7の短絡(5321d)
- KB番号/154常温によるプラスチック材料の短絡(5321d)
- KB番号/155常温によるプラスチック材料の断線、破損(5321d)
- KB番号/156電源電圧による超LSI(場所による)0.2μm以下GaAs、InPの断線、開放
- KB番号/157高電圧によるCTV,レーダー、電子レンジなど半導体メモリの放射線障害(5321d)
- KB番号/158高電圧による半導体ICメモリ、MOSメモリの一過性の誤動作(5321d)
- KB番号/159中間子照射による鋼材の材料脆性(5321d)
- KB番号/160日光照射によるプラスチック材料の変色、劣化、破損(5321d)
- KB番号/161イオン照射による強度劣化(5321d)
- KB番号/162異常外乱による地震(5322d)
- KB番号/163異常外乱による台風(5322d)
- KB番号/164異常外乱による停電(5322d)
- KB番号/165異常外乱による爆発(5322d)
- KB番号/166微生物による高分子の分解
- KB番号/167酵素による高分子の分解(5322d)
- KBb番号/001アブレッシブ磨耗による減肉
- KBb番号/002凝着磨耗による減肉(5296d)
- KBb番号/003腐食磨耗による減肉
- KBb番号/004フレッティング磨耗(フレッティングコロージョン)による減肉
- KBb番号/005キャビテーションエロージョンによる減肉(5296d)
- KBb番号/006エロージョンによる減肉
- KBb番号/007全面腐食による減肉
- KBb番号/008局部腐食による減肉
- KBb番号/009異種金属接触腐食による減肉(5296d)
- KBb番号/010孔食(ピッティング)による減肉(5296d)
- KBb番号/011すき間腐食(隙間腐食)による減肉(5296d)
- KBb番号/012アンモニアアタックによる減肉(5296d)
- KBb番号/013エロージョン/コロージョン,FAC,FICによる減肉
- KBb番号/014ほう酸腐食による減肉(5296d)
- KBb番号/015選択腐食,脱成分腐食による減肉(5296d)
- KBb番号/016微生物腐食による減肉(5296d)
- KBb番号/017高温酸化による減肉(5296d)
- KBb番号/018硫化による減肉(5296d)
- KBb番号/019侵炭(浸炭)による減肉
- KBb番号/020窒化による減肉
- KBb番号/021ハロゲン化腐食による減肉(5296d)
- KBb番号/022油灰腐食による減肉(84d)
- KBb番号/023溶融塩腐食による減肉(5296d)
- KBb番号/024溶融塩腐食による減肉(84d)
- KBb番号/025疲労による減肉(5296d)
- KBb番号/026熱疲労による減肉(84d)
- KBb番号/027腐食疲労による割れ(5297d)
- KBb番号/028フレッティング疲労による割れ
- KBb番号/029クリープ破壊による割れ(5297d)
- KBb番号/030クリープ疲労破壊による割れ(84d)
- KBb番号/032粒界型応力腐食割れ(IGSCC)による割れ
- KBb番号/033粒内型応力腐食割れ(TGSCC)による割れ(5297d)
- KBb番号/034照射誘起応力腐食割れ(IASCC)による割れ
- KBb番号/035塩化物応力腐食割れによる割れ(5297d)
- KBb番号/036硫化物応力腐食割れによる割れ
- KBb番号/037水素誘起割れ(遅れ破壊)による割れ(5297d)
- KBb番号/038粒界腐食割れ(IGA)による割れ(5297d)
- KBb番号/039ぐらっど下割れ(UCC)による割れ
- KBb番号/041焼戻し脆化による材質変化
- KBb番号/042シグマ相脆化による材質変化
- KBb番号/044黒鉛化による材質変化(5297d)
- KBb番号/046水素侵食による材質変化(5297d)
- KBb番号/047座屈による変形(5297d)
- KBb番号/049クリープ変形による変形
- KBb番号/050ラチェッティングによる変形
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