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''KB番号:''043
''概要説明:''高温+応力+時間による内圧管の管壁の変形・破損
''ストレス大分類:''温度+応力
''ストレス小分類:''高温+応力+時間
''故障メカニズム大分類:''ラチェッティング
''故障メカニズム小分類:''
''故障フェーズⅠ:''熱応力の繰返し負荷
''故障フェーズⅡ:''ひずみの累積
''故障モード:''変形・破損
''アイテム:''内圧管の管壁
''故障の発生原理:''
''故障モードの検出:''SEM
''故障モードの検出:''[[SEM>tag/sem]]
#region(SEM)
SEM
走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
#endregion
''主な業界・分野:''電子デバイス
''抑制対策(再発防止策):''
''抑制対策(評価基準):''
''備考:''
#generate_tags()
#set_tags(高温+応力+時間による内圧管の管壁の変形・破損,温度+応力,高温+応力+時間,ラチェッティング,,熱応力の繰返し負荷,ひずみの累積,変形・破損,内圧管の管壁,,SEM,電子デバイス)
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