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''KB番号：''095
''概要説明：''低湿による回転機器、半導体、表面並みデバイスの劣化、破壊
''ストレス大分類：''湿度
''ストレス小分類：''低湿
''故障メカニズム大分類：''乾燥
''故障メカニズム小分類：''静電破壊
''故障フェーズⅠ：''過電圧
''故障フェーズⅡ：''絶縁破壊
''故障モード：''劣化、破壊
''アイテム：''回転機器、半導体、表面並みデバイス
''故障の発生原理：''(人体帯電モデル)、(機械モデルなど)
''故障モードの検出：''ＳＥＭ
''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]]
#region(SEM)
SEM
走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
#endregion
''主な業界・分野：''電子デバイス
''抑制対策(再発防止策)：''
''抑制対策(評価基準)：''
''備考：''
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