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''KB番号:''100
''概要説明:''腐食性ガス+電界によるAgの短絡
''ストレス大分類:''湿度+電界
''ストレス小分類:''腐食性ガス+電界
''故障メカニズム大分類:''拡散
''故障メカニズム小分類:''毛髪銀
''故障フェーズⅠ:''銀イオンと電子の接触
''故障フェーズⅡ:''銀の生成
''故障モード:''短絡
''アイテム:''Ag
''故障の発生原理:''
''故障モードの検出:''SEM
''故障モードの検出:''[[SEM>tag/sem]]
#region(SEM)
SEM
走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
#endregion
''主な業界・分野:''電子デバイス
''抑制対策(再発防止策):''(再発防止策)
''抑制対策(再発防止策):''
''抑制対策(評価基準):''
''備考:''
#generate_tags()
#set_tags(腐食性ガス+電界によるAgの短絡,湿度+電界,腐食性ガス+電界,拡散,毛髪銀,銀イオンと電子の接触,銀の生成,短絡,Ag,,SEM,電子デバイス)
#set_tags(腐食性ガス+電界によるAgの短絡,湿度+電界,腐食性ガス+電界,拡散,毛髪銀,銀イオンと電子の接触,銀の生成,短絡,Ag,SEM,電子デバイス)