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''KB番号:''116
''概要説明:''高電圧による電路の接続部分の発熱、発火
''ストレス大分類:''電界
''ストレス小分類:''高電圧
''故障メカニズム大分類:''導電性発熱物の生成
''故障メカニズム小分類:''グロー現象
''故障フェーズⅠ:''接続個所の接触不良
''故障フェーズⅡ:''電流の断続
''故障モード:''発熱、発火
''アイテム:''電路の接続部分
''故障の発生原理:''
''故障モードの検出:''SEM
''故障モードの検出:''[[SEM>tag/sem]]
#region(SEM)
SEM
走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
#endregion
''主な業界・分野:''電子デバイス、高分子材料、電力
''抑制対策(再発防止策):''(再発防止策)
''抑制対策(再発防止策):''
''抑制対策(評価基準):''
''備考:''
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#set_tags(高電圧による電路の接続部分の発熱、発火,電界,高電圧,導電性発熱物の生成,グロー現象,接続個所の接触不良,電流の断続,発熱、発火,電路の接続部分,,SEM,電子デバイス、高分子材料、電力)
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