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''KB番号：''122
''概要説明：''電源電圧変動、サージによるＭＯＳ－ＩＣ、ＣＭＯＳ－ＩＣ（ＮＰＮ、ＰＮＰ)の絶縁不良
''ストレス大分類：''電界
''ストレス小分類：''電源電圧変動、サージ
''故障メカニズム大分類：''ラッチアップ
''故障メカニズム小分類：''
''故障フェーズⅠ：''寄生のサイリスタ→ＯＮ状態へ
''故障フェーズⅡ：''大電流の導電
''故障モード：''絶縁不良
''アイテム：''ＭＯＳ－ＩＣ、ＣＭＯＳ－ＩＣ（ＮＰＮ、ＰＮＰ)
''故障の発生原理：''
''故障モードの検出：''過流探傷機
''主な業界・分野：''電子デバイス、高分子材料、電力
''抑制対策(再発防止策)：''(再発防止策)
''抑制対策(再発防止策)：''
''抑制対策(評価基準)：''
''備考：''
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