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''KB番号：''153
''概要説明：''常温によるＡｇ２Ｓ、Ｃｕ２Ｓ、ＮａＭｏ２Ｏ７の短絡
''ストレス大分類：''特殊故障
''ストレス小分類：''常温
''故障メカニズム大分類：''ウィスカ
''故障メカニズム小分類：''(非真性)
''故障フェーズⅠ：''絶縁不良
''故障フェーズⅡ：''
''故障モード：''短絡
''アイテム：''Ａｇ２Ｓ、Ｃｕ２Ｓ、ＮａＭｏ２Ｏ７
''故障の発生原理：''VLS機構、依存未知の部分が多い
''故障モードの検出：''ＳＥｍ
''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]]
#region(SEM)
SEM
走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
#endregion
''主な業界・分野：''電子デバイス
''抑制対策(再発防止策)：''
''抑制対策(評価基準)：''
''備考：''
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#set_tags(常温によるＡｇ２Ｓ、Ｃｕ２Ｓ、ＮａＭｏ２Ｏ７の短絡,特殊故障,常温,ウィスカ,(非真性),絶縁不良,,短絡,Ａｇ２Ｓ、Ｃｕ２Ｓ、ＮａＭｏ２Ｏ７,VLS機構、依存未知の部分が多い,ＳＥｍ,電子デバイス)
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