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''KB番号:''153
''概要説明:''常温によるAg2S、Cu2S、NaMo2O7の短絡
''ストレス大分類:''特殊故障
''ストレス小分類:''常温
''故障メカニズム大分類:''ウィスカ
''故障メカニズム大分類:''[[ウィスカ>tag/ウィスカ]]
#region(ウィスカ)
ウィスカ
メッキ皮膜表面に発生するヒゲ状の金属結晶のこと
#endregion
''故障メカニズム小分類:''(非真性)
''故障フェーズⅠ:''絶縁不良
''故障フェーズⅡ:''
''故障モード:''短絡
''アイテム:''Ag2S、Cu2S、NaMo2O7
''故障の発生原理:''VLS機構、依存未知の部分が多い
''故障モードの検出:''[[SEM>tag/sem]]
#region(SEM)
SEM
走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
#endregion
''主な業界・分野:''電子デバイス
''抑制対策(再発防止策):''
''抑制対策(評価基準):''
''備考:''
#generate_tags()
#set_tags(常温,ウィスカ,絶縁不良,,短絡,Ag2S、Cu2S、NaMo2O7,VLS機構、依存未知の部分が多い,SEM,電子デバイス)