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''KB番号:''157
''概要説明:''高電圧によるCTV,レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材)の放射線障害
''ストレス大分類:''特殊故障
''ストレス小分類:''高電圧
''故障メカニズム大分類:''放射線
''故障メカニズム大分類:''[[放射線>tag/放射線]]
''故障メカニズム小分類:''X線
''故障フェーズⅠ:''
''故障フェーズⅡ:''
''故障モード:''放射線障害
''アイテム:''CTV,レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材)
''故障の発生原理:''
''故障モードの検出:''SEM
''故障モードの検出:''[[SEM>tag/sem]]
#region(SEM)
SEM
走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
#endregion
''主な業界・分野:''電子デバイス
''抑制対策(再発防止策):''(再発防止策)
''抑制対策(再発防止策):''
''抑制対策(評価基準):''
''備考:''
#generate_tags()
#set_tags(高電圧によるCTV,レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材)の放射線障害,特殊故障,高電圧,放射線,X線,,,放射線障害,CTV,レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材),,SEM,電子デバイス)
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