シンビオ社会研究会 原子力WEB教材


KB番号/157高電圧によるCTV,レーダー、電子レンジなど半導体メモリの放射線障害 のバックアップ(No.3)


KB番号:157

概要説明:高電圧によるCTV,レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材)の放射線障害

ストレス大分類:特殊故障

ストレス小分類:高電圧

故障メカニズム大分類:放射線

故障メカニズム小分類:X線

故障フェーズⅠ:

故障フェーズⅡ:

故障モード:放射線障害

アイテム:CTV,レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材)

故障の発生原理:

故障モードの検出:SEM?

+  SEM

主な業界・分野:電子デバイス

抑制対策(再発防止策):

抑制対策(評価基準):

備考:

Tag:[sem, 放射線, 放射線障害, 特殊故障, 電子デバイス, 高電圧, CTV,レーダー、電子レンジなど半導体メモリ, X線]