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シンビオ社会研究会 原子力WEB教材
tag/電子デバイス
のバックアップ(No.2)
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tag/電子デバイス
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1 (2010-04-29 (木) 17:37:28)
2 (2010-04-29 (木) 18:10:10)
3 (2010-04-30 (金) 04:12:51)
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電子デバイス
KB番号/021高温+時間電圧+時間によるフィンなどの破壊
KB番号/043高温+応力+時間による内圧管の管壁の変形・破損
KB番号/047低温+応力による樹脂のき裂、破断破損
KB番号/072応力+時間による半導体集積回路、Al配線膜の塑性変形、破断、断線