シンビオ社会研究会 原子力WEB教材


tag/電子デバイス のバックアップ差分(No.2)


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* 電子デバイス [#gef5c7de]
* 電子デバイス [#yfe9c6ad]
-[[KB番号/021高温+時間電圧+時間によるフィンなどの破壊]]
-[[KB番号/043高温+応力+時間による内圧管の管壁の変形・破損]]
-[[KB番号/047低温+応力による樹脂のき裂、破断破損]]
-[[KB番号/072応力+時間による半導体集積回路、Al配線膜の塑性変形、破断、断線]]