''KB番号：''013 ''概要説明：''高温による電線と接触箇所のゆがみ部分のジュール熱の発生 ''ストレス大分類：''温度 ''ストレス小分類：''高温 ''故障メカニズム大分類：''ジュール熱 ''故障メカニズム小分類：'' ''故障フェーズⅠ：''接触箇所の歪み ''故障フェーズⅡ：''接触抵抗の増加 ''故障モード：''ジュール熱の発生 ''アイテム：''電線と接触箇所のゆがみ部分 ''故障の発生原理：'' ''故障モードの検出：''SEM ''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]] #region(SEM) SEM 走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope) #endregion ''主な業界・分野：'' ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(高温による電線と接触箇所のゆがみ部分のジュール熱の発生,温度,高温,ジュール熱,,接触箇所の歪み,接触抵抗の増加,ジュール熱の発生,電線と接触箇所のゆがみ部分,,SEM,)