''KB番号：''017 ''概要説明：''高温＋時間による接点材料、ポリマーの剥離、脱落 ''ストレス大分類：''温度 ''ストレス小分類：''高温＋時間 ''故障メカニズム大分類：''高温劣化 ''故障メカニズム小分類：''高温酸化(バナジウム・アタック) ''故障フェーズⅠ：''酸化膜の生成 ''故障フェーズⅡ：''分子の切断 ''故障モード：''剥離、脱落 ''アイテム：''接点材料、ポリマー ''故障の発生原理：''アレニウス則 ''故障の発生原理：''[[アレニウス則>tag/アレニウス則]] #region(アレニウス則) アレニウス則 温度ストレスによる寿命を予測する法則 #endregion ''故障モードの検出：'' ''主な業界・分野：''電子デバイス、化学、高分子材料 ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(高温＋時間による接点材料、ポリマーの剥離、脱落,温度,高温＋時間,高温劣化,高温酸化(バナジウム・アタック),酸化膜の生成,分子の切断,剥離、脱落,接点材料、ポリマー,アレニウス則,,電子デバイス、化学、高分子材料) #set_tags(温度,高温＋時間,高温劣化,高温酸化,酸化膜の生成,分子の切断,剥離、脱落,接点材料、ポリマー,アレニウス則,,電子デバイス、化学、高分子材料)