''KB番号：''043 ''概要説明：''高温＋応力＋時間による内圧管の管壁の変形・破損 ''ストレス大分類：''温度＋応力 ''ストレス小分類：''高温＋応力＋時間 ''故障メカニズム大分類：''ラチェッティング ''故障メカニズム小分類：'' ''故障フェーズⅠ：''熱応力の繰返し負荷 ''故障フェーズⅡ：''ひずみの累積 ''故障モード：''変形・破損 ''アイテム：''内圧管の管壁 ''故障の発生原理：'' ''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]] #region(SEM) SEM 走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope) #endregion ''主な業界・分野：''電子デバイス ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(高温＋応力＋時間による内圧管の管壁の変形・破損,温度＋応力,高温＋応力＋時間,ラチェッティング,,熱応力の繰返し負荷,ひずみの累積,変形・破損,内圧管の管壁,,ＳＥＭ,電子デバイス) #set_tags(高温＋応力＋時間による内圧管の管壁の変形・破損,温度＋応力,高温＋応力＋時間,ラチェッティング,,熱応力の繰返し負荷,ひずみの累積,変形・破損,内圧管の管壁,SEM,電子デバイス)