''KB番号：''068 ''概要説明：''しゅう動による剥離、脱落 ''ストレス大分類：''応力 ''ストレス小分類：''しゅう動 ''故障メカニズム大分類：''[[エロージョン>tag/エロージョン]] ''故障メカニズム小分類：'' ''故障フェーズⅠ：''気泡の崩壊、流体の衝突 ''故障フェーズⅡ：''表面損傷(磨耗) ''故障モード：''剥離、脱落 ''アイテム：'' ''故障の発生原理：'' ''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]] #region(SEM) SEM 走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope) #endregion ''主な業界・分野：'' ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(しゅう動による剥離,脱落,応力,しゅう動,エロージョン,,気泡の崩壊、流体の衝突,表面損傷,剥離、脱落,SEM) #set_tags(しゅう動による剥離,脱落,応力,しゅう動,エロージョン,気泡の崩壊,流体の衝突,表面損傷,剥離、脱落,SEM)