シンビオ社会研究会 原子力WEB教材


KB番号/095低湿による回転機器、半導体、表面並みデバイスの劣化、破壊 の変更点


''KB番号:''095

''概要説明:''低湿による回転機器、半導体、表面並みデバイスの劣化、破壊

''ストレス大分類:''湿度

''ストレス小分類:''低湿

''故障メカニズム大分類:''乾燥

''故障メカニズム小分類:''静電破壊

''故障フェーズⅠ:''過電圧

''故障フェーズⅡ:''絶縁破壊

''故障モード:''劣化、破壊

''アイテム:''回転機器、半導体、表面並みデバイス

''故障の発生原理:''(人体帯電モデル)、(機械モデルなど)

''故障モードの検出:''SEM
''故障モードの検出:''[[SEM>tag/sem]]
#region(SEM)
SEM

走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
#endregion

''主な業界・分野:''電子デバイス

''抑制対策(再発防止策):''

''抑制対策(評価基準):''

''備考:''

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#set_tags(低湿による回転機器、半導体、表面並みデバイスの劣化、破壊,湿度,低湿,乾燥,静電破壊,過電圧,絶縁破壊,劣化、破壊,回転機器、半導体、表面並みデバイス,(人体帯電モデル)、(機械モデルなど),SEM,電子デバイス)
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