''KB番号：''095 ''概要説明：''低湿による回転機器、半導体、表面並みデバイスの劣化、破壊 ''ストレス大分類：''湿度 ''ストレス小分類：''低湿 ''故障メカニズム大分類：''乾燥 ''故障メカニズム小分類：''静電破壊 ''故障フェーズⅠ：''過電圧 ''故障フェーズⅡ：''絶縁破壊 ''故障モード：''劣化、破壊 ''アイテム：''回転機器、半導体、表面並みデバイス ''故障の発生原理：''(人体帯電モデル)、(機械モデルなど) ''故障モードの検出：''ＳＥＭ ''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]] #region(SEM) SEM 走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope) #endregion ''主な業界・分野：''電子デバイス ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(低湿による回転機器、半導体、表面並みデバイスの劣化、破壊,湿度,低湿,乾燥,静電破壊,過電圧,絶縁破壊,劣化、破壊,回転機器、半導体、表面並みデバイス,(人体帯電モデル)、(機械モデルなど),ＳＥＭ,電子デバイス) #set_tags(湿度,低湿,乾燥,静電破壊,過電圧,絶縁破壊,劣化、破壊,回転機器、半導体、表面並みデバイス,SEM,電子デバイス)