''KB番号：''100 ''概要説明：''腐食性ガス＋電界によるＡｇの短絡 ''ストレス大分類：''湿度＋電界 ''ストレス小分類：''腐食性ガス＋電界 ''故障メカニズム大分類：''拡散 ''故障メカニズム小分類：''毛髪銀 ''故障フェーズⅠ：''銀イオンと電子の接触 ''故障フェーズⅡ：''銀の生成 ''故障モード：''短絡 ''アイテム：''Ａｇ ''故障の発生原理：'' ''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]] #region(SEM) SEM 走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope) #endregion ''主な業界・分野：''電子デバイス ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(腐食性ガス＋電界によるＡｇの短絡,湿度＋電界,腐食性ガス＋電界,拡散,毛髪銀,銀イオンと電子の接触,銀の生成,短絡,Ａｇ,,ＳＥＭ,電子デバイス) #set_tags(腐食性ガス＋電界によるＡｇの短絡,湿度＋電界,腐食性ガス＋電界,拡散,毛髪銀,銀イオンと電子の接触,銀の生成,短絡,Ａｇ,SEM,電子デバイス)