シンビオ社会研究会 原子力WEB教材

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''KB番号：''102

''概要説明：''湿度＋電界によるＢｉ、Ｃｄ、Ｃｕ、Ｐｂ、Ｓｎ、Ｚｎ、Ａｇの短絡、絶縁不良

''ストレス大分類：''湿度＋電界

''ストレス小分類：''湿度＋電界

''故障メカニズム大分類：''イオンマイグレーション

''故障メカニズム小分類：''

''故障フェーズⅠ：''電極間隔小

''故障フェーズⅡ：''

''故障モード：''短絡、絶縁不良

''アイテム：''Ｂｉ、Ｃｄ、Ｃｕ、Ｐｂ、Ｓｎ、Ｚｎ、Ａｇ

''故障の発生原理：''(今日、以下の2つの面からの研究が進められている　・質量輸送問題、　・凝固理論の展開)

''故障モードの検出：''ＳＥＭ
''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]]
#region(SEM)
SEM

走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
#endregion

''主な業界・分野：''電子デバイス

''抑制対策(再発防止策)：''

''抑制対策(評価基準)：''

''備考：''

#generate_tags()

#set_tags(湿度＋電界によるＢｉ、Ｃｄ、Ｃｕ、Ｐｂ、Ｓｎ、Ｚｎ、Ａｇの短絡、絶縁不良,湿度＋電界,湿度＋電界,イオンマイグレーション,,電極間隔小,,短絡、絶縁不良,Ｂｉ、Ｃｄ、Ｃｕ、Ｐｂ、Ｓｎ、Ｚｎ、Ａｇ,(今日、以下の2つの面からの研究が進められている　・質量輸送問題、　・凝固理論の展開),ＳＥＭ,電子デバイス)
#set_tags(湿度＋電界,湿度＋電界,イオンマイグレーション,電極間隔小,短絡,絶縁不良,質量輸送問題,,SEM,電子デバイス)