シンビオ社会研究会 原子力WEB教材

• 追加された行はこの色です。
• 削除された行はこの色です。
• KB番号/103湿度＋電界＋ハロゲンによるハロゲンで移行する金属の短絡、絶縁不良 へ行く。
• KB番号/103湿度＋電界＋ハロゲンによるハロゲンで移行する金属の短絡、絶縁不良 の差分を削除

''KB番号：''103

''概要説明：''湿度＋電界＋ハロゲンによるハロゲニオンが共存すると移行する金属(Ａｕ、Ｉｎ、Ｐｄ、Ｐｔ)の短絡、絶縁不良

''ストレス大分類：''湿度＋電界

''ストレス小分類：''湿度＋電界＋ハロゲン

''故障メカニズム大分類：''イオンマイグレーション

''故障メカニズム小分類：''

''故障フェーズⅠ：''低電圧で発生

''故障フェーズⅡ：''

''故障モード：''短絡、絶縁不良

''アイテム：''ハロゲニオンが共存すると移行する金属(Ａｕ、Ｉｎ、Ｐｄ、Ｐｔ)

''故障の発生原理：''(今日、以下の2つの面からの研究が進められている　・質量輸送問題、　・凝固理論の展開)

''故障モードの検出：''ＳＥＭ
''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]]
#region(SEM)
SEM

走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
#endregion

''主な業界・分野：''電子デバイス

''抑制対策(再発防止策)：''

''抑制対策(評価基準)：''

''備考：''

#generate_tags()

#set_tags(湿度＋電界＋ハロゲンによるハロゲニオンが共存すると移行する金属(Ａｕ、Ｉｎ、Ｐｄ、Ｐｔ)の短絡、絶縁不良,湿度＋電界,湿度＋電界＋ハロゲン,イオンマイグレーション,,低電圧で発生,,短絡、絶縁不良,ハロゲニオンが共存すると移行する金属(Ａｕ、Ｉｎ、Ｐｄ、Ｐｔ),(今日、以下の2つの面からの研究が進められている　・質量輸送問題、　・凝固理論の展開),ＳＥＭ,電子デバイス)
#set_tags(絶縁不良,湿度＋電界,湿度＋電界＋ハロゲン,イオンマイグレーション,,低電圧で発生,,短絡、絶縁不良,ハロゲニオンが共存すると移行する金属,SEM,電子デバイス)