''KB番号：''105 ''概要説明：''妨害電波(内部、外部)による入力、接地回路シールド不良の誤動作、電力破壊、電圧破壊 ''ストレス大分類：''電界 ''ストレス小分類：''妨害電波(内部、外部) ''故障メカニズム大分類：''パルス ''故障メカニズム小分類：''妨害電波 ''故障フェーズⅠ：''誤動作、電力破壊、電圧破壊 ''故障フェーズⅡ：'' ''故障モード：'' ''アイテム：''入力、接地回路シールド不良 ''故障の発生原理：'' ''故障モードの検出：''ＳＥＭ ''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]] #region(SEM) SEM 走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope) #endregion ''主な業界・分野：''電子デバイス、高分子材料、電力 ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(妨害電波(内部、外部)による入力、接地回路シールド不良の誤動作、電力破壊、電圧破壊,電界,妨害電波(内部、外部),パルス,妨害電波,誤動作、電力破壊、電圧破壊,,,入力、接地回路シールド不良,,ＳＥＭ,電子デバイス、高分子材料、電力) #set_tags(電界,妨害電波,パルス,妨害電波,誤動作、電力破壊、電圧破壊,,,入力、接地回路シールド不良,SEM,電子デバイス、高分子材料、電力)