''KB番号：''108 ''概要説明：''雷、誘電雷による入力接地回路保護デバイスの誤動作、電力破壊、電圧破壊 ''ストレス大分類：''電界 ''ストレス小分類：''雷、誘電雷 ''故障メカニズム大分類：''パルス ''故障メカニズム小分類：''雷 ''故障フェーズⅠ：''誤動作、電力破壊、電圧破壊 ''故障フェーズⅡ：'' ''故障モード：'' ''アイテム：''入力接地回路保護デバイス ''故障の発生原理：'' ''故障モードの検出：''ＳＥＭ ''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]] #region(SEM) SEM 走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope) #endregion ''主な業界・分野：''電子デバイス、高分子材料、電力 ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(雷、誘電雷による入力接地回路保護デバイスの誤動作、電力破壊、電圧破壊,電界,雷、誘電雷,パルス,雷,誤動作、電力破壊、電圧破壊,,,入力接地回路保護デバイス,,ＳＥＭ,電子デバイス、高分子材料、電力) #set_tags(雷,誘電雷,パルス,雷,誤動作,電力破壊,電圧破壊,,,入力接地回路保護デバイス,,SEM,電子デバイス、高分子材料、電力)