''KB番号：''122 ''概要説明：''電源電圧変動、サージによるＭＯＳ－ＩＣ、ＣＭＯＳ－ＩＣ（ＮＰＮ、ＰＮＰ)の絶縁不良 ''ストレス大分類：''電界 ''ストレス小分類：''電源電圧変動、サージ ''故障メカニズム大分類：''[[ラッチアップ>tag/ラッチアップ]] #region(ラッチアップ) ラッチアップ IC回路において、予期しない電圧による通電が原因で、数百mAもの大電流が流れICが破壊される現象 #endregion ''故障メカニズム小分類：'' ''故障フェーズⅠ：''寄生のサイリスタ→ＯＮ状態へ ''故障フェーズⅡ：''大電流の導電 ''故障モード：''絶縁不良 ''アイテム：''ＭＯＳ－ＩＣ、ＣＭＯＳ－ＩＣ（ＮＰＮ、ＰＮＰ) ''故障の発生原理：'' ''故障モードの検出：''過流探傷機 ''主な業界・分野：''電子デバイス、高分子材料、電力 ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(電界,電源電圧変動、サージ,ラッチアップ,,寄生のサイリスタ→ＯＮ状態へ,大電流の導電,絶縁不良,ＭＯＳ－ＩＣ、ＣＭＯＳ－ＩＣ,過流探傷機,電子デバイス、高分子材料、電力)