''KB番号：''124 ''概要説明：''閉開接点＋アークによるＳｉ化合物(オイル、グリース、ゴム、離形材、研磨剤)の雑音、接触不良 ''ストレス大分類：''電界 ''ストレス小分類：''閉開接点＋アーク ''故障メカニズム大分類：''Ｓｉ（シリカ)汚染 ''故障メカニズム小分類：'' ''故障フェーズⅠ：'' ''故障フェーズⅡ：'' ''故障モード：''雑音、接触不良 ''アイテム：''Ｓｉ化合物(オイル、グリース、ゴム、離形材、研磨剤) ''故障の発生原理：'' ''故障モードの検出：''偏光光学顕微鏡、ＳＥＭ、ＡＦＭ ''主な業界・分野：'' ''抑制対策(再発防止策)：''(再発防止策) ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(閉開接点＋アークによるＳｉ化合物(オイル、グリース、ゴム、離形材、研磨剤)の雑音、接触不良,電界,閉開接点＋アーク,Ｓｉ（シリカ)汚染,,,,雑音、接触不良,Ｓｉ化合物(オイル、グリース、ゴム、離形材、研磨剤),,偏光光学顕微鏡、ＳＥＭ、ＡＦＭ,)