''KB番号：''140 ''概要説明：''シリコーンガス＋アークエネルギーによる硅素化合物など、接点開閉機器の接触不良 ''ストレス大分類：''メカノケミカル反応 ''ストレス小分類：''シリコーンガス＋アークエネルギー ''故障メカニズム大分類：''酸化シリコン ''故障メカニズム小分類：'' ''故障フェーズⅠ：''硅素化合物をアーク発生接点にしよう ''故障フェーズⅡ：''ＳｉＯ２、ＳｉＣの生成 ''故障モード：''接触不良 ''アイテム：''硅素化合物など、接点開閉機器 ''故障の発生原理：'' ''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]] #region(SEM) SEM 走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope) #endregion ''主な業界・分野：''電子デバイス ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(メカノケミカル反応,シリコーンガス＋アークエネルギー,酸化シリコン,,硅素化合物をアーク発生接点にしよう,ＳｉＯ２、ＳｉＣの生成,接触不良,硅素化合物など、接点開閉機器,,[[SEM>tag/sem]] #region(SEM) SEM #set_tags(メカノケミカル反応,シリコーンガス＋アークエネルギー,酸化シリコン,,硅素化合物をアーク発生接点にしよう,ＳｉＯ２、ＳｉＣの生成,接触不良,硅素化合物など、接点開閉機器,,SEM) #set_tags(メカノケミカル反応,シリコーンガス＋アークエネルギー,酸化シリコン,,硅素化合物をアーク発生接点にしよう,ＳｉＯ２、ＳｉＣの生成,接触不良,硅素化合物など、接点開閉機器,SEM)