''KB番号:''152 ''概要説明:''常温による元素(Cd、Sn、Zn、Sb)、合金(Sn-Al、Sn-Zn、Pb-Cu、In-Mg)の短絡 ''ストレス大分類:''特殊故障 ''ストレス小分類:''常温 ''故障メカニズム大分類:''ウィスカ ''故障メカニズム大分類:''[[ウィスカ>tag/ウィスカ]] #region(ウィスカ) ウィスカ メッキ皮膜表面に発生するヒゲ状の金属結晶のこと #endregion ''故障メカニズム小分類:''(真性) ''故障フェーズⅠ:''金属内部の歪み ''故障フェーズⅡ:''絶縁不良 ''故障モード:''短絡 ''アイテム:''元素(Cd、Sn、Zn、Sb)、合金(Sn-Al、Sn-Zn、Pb-Cu、In-Mg) ''故障の発生原理:'' ''故障モードの検出:''[[SEM>tag/sem]] #region(SEM) SEM 走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope) #endregion ''主な業界・分野:''電子デバイス ''抑制対策(再発防止策):'' ''抑制対策(評価基準):'' ''備考:'' #generate_tags() #set_tags(特殊故障,常温,ウィスカ,金属内部の歪み,絶縁不良,短絡,元素、合金,SEM,電子デバイス)