''KB番号：''153 ''概要説明：''常温によるＡｇ２Ｓ、Ｃｕ２Ｓ、ＮａＭｏ２Ｏ７の短絡 ''ストレス大分類：''特殊故障 ''ストレス小分類：''常温 ''故障メカニズム大分類：''ウィスカ ''故障メカニズム大分類：''[[ウィスカ>tag/ウィスカ]] #region(ウィスカ) ウィスカ メッキ皮膜表面に発生するヒゲ状の金属結晶のこと #endregion ''故障メカニズム小分類：''(非真性) ''故障フェーズⅠ：''絶縁不良 ''故障フェーズⅡ：'' ''故障モード：''短絡 ''アイテム：''Ａｇ２Ｓ、Ｃｕ２Ｓ、ＮａＭｏ２Ｏ７ ''故障の発生原理：''VLS機構、依存未知の部分が多い ''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]] #region(SEM) SEM 走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope) #endregion ''主な業界・分野：''電子デバイス ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(常温,ウィスカ,絶縁不良,,短絡,Ａｇ２Ｓ、Ｃｕ２Ｓ、ＮａＭｏ２Ｏ７,VLS機構、依存未知の部分が多い,SEM,電子デバイス)