''KB番号：''157 ''概要説明：''高電圧によるＣＴＶ，レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材)の放射線障害 ''ストレス大分類：''特殊故障 ''ストレス小分類：''高電圧 ''故障メカニズム大分類：''放射線 ''故障メカニズム大分類：''[[放射線>tag/放射線]] ''故障メカニズム小分類：''Ｘ線 ''故障フェーズⅠ：'' ''故障フェーズⅡ：'' ''故障モード：''放射線障害 ''アイテム：''ＣＴＶ，レーダー、電子レンジなど半導体メモリ(無機充填材) ''故障の発生原理：'' ''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]] #region(SEM) SEM 走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope) #endregion ''主な業界・分野：''電子デバイス ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(特殊故障,高電圧,放射線,Ｘ線,,,放射線障害,ＣＴＶ，レーダー、電子レンジなど半導体メモリ,SEM,電子デバイス)