シンビオ社会研究会 原子力WEB教材

KB番号：010

概要説明：高温によるAg、Au、Cu、Fe、Mg、Ni、Pb、Pd、Pt、Ta、Ti、W、Alの短絡

ストレス大分類：温度

ストレス小分類：高温

故障メカニズム大分類：結晶成長(ウイスカ)

故障メカニズム小分類：(真性)

故障フェーズⅠ：金属内部の歪み

故障フェーズⅡ：絶縁不良

故障モード：短絡

アイテム：Ag、Au、Cu、Fe、Mg、Ni、Pb、Pd、Pt、Ta、Ti、W、Al

故障の発生原理：

故障モードの検出：

主な業界・分野：電子デバイス

抑制対策(再発防止策)：

抑制対策(評価基準)：

備考：