シンビオ社会研究会 原子力WEB教材

KB番号：021

概要説明：高温＋時間電圧＋時間によるフィンなどの破壊

ストレス大分類：温度

ストレス小分類：高温＋時間電圧＋時間

故障メカニズム大分類：2次破壊

故障メカニズム小分類：

故障フェーズⅠ：ホットスポット

故障フェーズⅡ：

故障モード：破壊

アイテム：フィンなど

故障の発生原理：

故障モードの検出：

主な業界・分野：電子デバイス

抑制対策(再発防止策)：

抑制対策(評価基準)：

備考：